產品中心
當前位置:首頁 > 產品中心 > 測試系統 > 介電溫譜/頻譜/阻抗譜測試 > 介電溫譜、頻譜測試系統
產品分類CLASSIFICATION
詳細介紹
介電溫譜/頻譜測試系統用于研究材料(如塊體、薄膜等)的介電性能(介電常數、損耗因子等)隨溫度(溫譜)和頻率(頻譜)的變化規律。該系統核心組件包括LCR電橋、探針冷熱臺及專用測試軟件,可精準測量并分析材料在不同溫度和不同頻率下的介電特性。
介電溫譜、頻譜測試系統硬件配置:
1、電橋LCR(keysight、同惠、日置、穩科等各類品牌產品)
2、探針冷熱臺(CH600-190-P4等型號)
介電溫譜、頻譜測試系統規格參數:
1、溫度范圍:-190~600℃ / RT~1000℃(選型)
2、溫度穩定性:±0.1℃
3、冷熱方式:液氮致冷,電阻加熱
4、載樣臺材質:銀質
5、載樣臺尺寸:23mm*23mm
6、腔體環境:氣密/真空
7、探針材質及數量:紫銅鍍金或鎢鋼鍍金,4或8個(選型)
產品咨詢